Elektrolumineszenzprüfung von Modulen: Wann sie bei Schäden hilft
09.10.2026
Eine Elektrolumineszenzprüfung kann verborgene Zellrisse und andere Auffälligkeiten in kristallinen PV-Modulen sichtbar machen. Sie hilft bei konkretem Schadensverdacht, ersetzt aber weder die Bewertung der elektrischen Auswirkungen noch eine fachliche Einordnung: Ein Bildbefund allein sagt nicht zuverlässig voraus, wie viel Ertrag oder Sicherheit betroffen ist.
Was die EL-Prüfung zeigt
Bei der Elektrolumineszenz (EL) wird ein PV-Modul elektrisch betrieben und mit einer geeigneten Kamera aufgenommen. Die Aufnahme erfolgt üblicherweise im Dunkeln; durch den eingespeisten Strom wird das Modul zur Bildgebung angeregt. Helligkeitsunterschiede und dunkle Zellbereiche können Hinweise auf unterbrochene oder beeinträchtigte Zellbereiche geben. Damit wird ein Schaden sichtbar, der von außen nicht unbedingt erkennbar ist. Fraunhofer beschreibt EL-Messungen als etabliertes Verfahren, mit dem Zellrisse und andere Auffälligkeiten sichtbar gemacht werden können ([Fraunhofer IMWS](https://www.imws.fraunhofer.de/de/kompetenzfelder/photovoltaik/highlights/klassifizierung-zellrisse-mikrorisse-pvriss.html); [NLR Research Hub](https://research-hub.nlr.gov/en/publications/methods-for-in-situ-electroluminescence-imaging-of-photovoltaic-m-2/)).
Wann eine Mikrorissdiagnose sinnvoll ist
Eine EL-Prüfung ist vor allem dann hilfreich, wenn es einen konkreten Anlass gibt: etwa nach einem Transport- oder Montageschaden, nach einer außergewöhnlichen mechanischen Belastung oder wenn ein einzelnes Modul im Betrieb auffällig ist. Risse können laut Fraunhofer IPA bereits durch mechanische Beanspruchung des Siliziums in der Fertigung entstehen; sie sind also nicht automatisch Beleg für einen späteren Bedienfehler. Bei einer Anlage mit vielen Modulen kann die Prüfung gezielt auf verdächtige Module beschränkt werden, statt ohne Anlass pauschal alle Module zu untersuchen. Das ist eine praktische Einordnung, keine allgemeine Prüfvorschrift.
Was ein dunkler Bereich bedeutet – und was nicht
Ein dunkler Streifen oder ein abgegrenzter Bereich im EL-Bild ist zunächst ein Befund, keine vollständige Schadensbewertung. Rissmuster können unterschiedlich ausfallen; zudem können EL-Aufnahmen auch andere Auffälligkeiten abbilden. Der Fraunhofer-CSP-Fehlerkatalog ordnet deshalb neben Zellrissen weitere EL-Befunde ein und stützt die Klassifikation mit ergänzenden Bild- und Leistungsdaten. Für Betreiber ist diese Unterscheidung wichtig: Aus einem einzelnen Bild lässt sich nicht verlässlich ableiten, wie stark der Jahresertrag sinkt, ob ein Austausch erforderlich ist oder ob ein Sicherheitsrisiko besteht. Fraunhofer weist zugleich darauf hin, dass allgemein anerkannte Bewertungsstandards und verbindliche Kriterien zur Risiko- und Leistungsprognose bislang fehlen ([Fraunhofer IMWS](https://www.imws.fraunhofer.de/de/kompetenzfelder/photovoltaik/highlights/klassifizierung-zellrisse-mikrorisse-pvriss.html)).
Prüfverfahren in der Praxis
Für eine aussagekräftige Prüfung müssen Modul und Aufnahmebedingungen zusammenpassen. EL wird üblicherweise im Dunkeln bei Strominjektion aufgenommen. Die Forschenden von NREL und der Technischen Universität Dänemark zeigen außerdem, dass Messungen bei Bedingungen ober- oder unterhalb der Standard-Testbedingungen andere Verhaltensweisen sichtbar machen können. Eine einzelne Aufnahme bei nur einem Betriebspunkt kann daher nicht jede Auffälligkeit erfassen. Je nach Fragestellung können ergänzende Verfahren sinnvoll sein: Fraunhofer IPA nennt neben EL etwa Thermographie als Alternative für die Rissprüfung, wenn Durchlicht nach der metallischen Rückseitenkontaktierung nicht mehr geeignet ist. Die Methoden beantworten nicht exakt dieselbe Frage und sollten nicht als austauschbare Einzelbilder verstanden werden ([Fraunhofer IPA](https://www.ipa.fraunhofer.de/de/aktuelle-forschung/bild--und-signalverarbeitung/zerstoerungsfreie-pruefung/thermographie/mikrorisspruefung-am-beispiel-von-solarzellen.html); [NLR Research Hub](https://research-hub.nlr.gov/en/publications/methods-for-in-situ-electroluminescence-imaging-of-photovoltaic-m-2/)).
So gehen Betreiber mit einem Befund um
Wenn ein EL-Bild einen möglichen Modulschaden zeigt, sollte der Befund mit Modulposition, Aufnahmedatum und Prüfbedingungen dokumentiert werden. Sinnvoll ist, das Bild mit weiteren verfügbaren Informationen abzugleichen – etwa einer Sichtprüfung, elektrischen Messdaten und einer vergleichenden Aufnahme. Fraunhofer beschreibt eine solche Kombination aus EL-Aufnahmen, weiteren Bildverfahren und Leistungsdaten als Grundlage seiner Klassifikation. Bei einem Streit über Gewährleistung oder Versicherung sollte eine fachkundige Stelle die Aufnahme nachvollziehbar bewerten und die verwendete Klassifikation benennen. So wird aus dem Bild eine belastbarere Entscheidungsgrundlage, ohne mehr Sicherheit vorzutäuschen, als das Prüfverfahren allein leisten kann.